리크 테스트 gui

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Raw Blame History

7. 자동 시험 프로세스

7.1 개요

자동 시험은 시작 신호(LEFT_START 또는 RIGHT_START)에 의해 작동하며, 7단계로 진행됩니다. 좌/우 채널은 각각 독립적인 백그라운드 스레드에서 실행되지만, 중복 실행 방지 기능을 통해 동시 시험은 방지됩니다.

7.2 전체 프로세스 흐름도

시작 신호 감지 (좌측/우측 시작 신호 입력 시)

중복 실행 방지 대기

• 다른 채널이 시험 중인 경우: "대기중" 메시지를 표시하며 순서 대기
• 시험 가능 상태인 경우: 다음 단계 진행 (좌/우 채널 동시 시험 방지)

1단계: 시험 시작 (초기화)

• 합격/불합격 신호 출력 초기화 (OFF)
• 메인 화면 결과 표시 초기화 및 시작 시간 갱신
• 누설 센서 수신 데이터 초기화

2단계: 제품 ID 판독

• 판독 장치(4251 보드)를 통해 제품 ID 센서에서 16자리 ID 판독
• [실패 시] "ID 읽기 실패" 오류 출력 후 시험이 종료되며 결과는 기록 및 저장에서 제외됩니다.

3단계: PCB 바코드 데이터베이스 조회

• 데이터베이스에서 제품 ID(`IC_SN`)에 매칭되는 `PCB_Barcode` 조회 (5초 대기 시간 초과 제한)
• [실패/누락 시] "바코드 매핑 실패" 오류 출력 후 즉시 종료되며 결과는 기록 및 저장에서 제외됩니다.

4단계: 누설 시험 수행 (계측)

• 화면에 "LEAK 시험중" 표시
• 누설 센서(Sentinel C28)로부터 측정 결과 수신 대기 (최대 30초)
• [시간 초과 시] 통신 시간 초과 오류 발생 및 불합격(NG) 판정으로 자동 종료 (측정값 9.9999로 데이터베이스에 저장)

5단계: 합격 판정

• 규격 하한값 ≤ 측정값 ≤ 규격 상한값 이면 **OK (합격)**, 범위를 벗어나면 **NG (불합격)**로 판정합니다.

6단계: 판정 스펙 교차 검증

• 프로그램 판정과 센서 자체 판정을 비교 분석합니다.
• 판정이 서로 다를 경우 화면에 경고 창을 표시합니다. (통신 설정에서 알림 창 표시를 끌 수 있습니다.)

7단계: 결과 출력 및 저장

• 로컬 CSV 백업 파일 기록 및 데이터베이스에 검사 결과 저장
• 판정 결과에 따라 외부 설비에 출력 신호(OK 또는 NG 포트) 전송
• 메인 화면에 최종 측정값 및 판정 출력 ("시험 완료" 표시)

순서 잠금 해제

• 시험 종료 후 순서 대기가 해제되며, 대기 중이던 다른 채널이 0.35초 대기 후 자동으로 시험을 개시합니다.

7.3 좌/우 채널 순차 실행 및 대기

좌/우 채널은 동시에 시험을 수행할 수 없습니다. 이는 하드웨어 통신 간섭 및 충돌을 방지하기 위함입니다.

상황	동작
한 채널만 시험 시작 신호 발생	즉시 시험을 시작합니다.
양쪽 채널 동시 신호 발생	먼저 순서를 획득한 채널이 시험을 진행하며, 다른 채널은 "대기중"을 표시하며 대기합니다.
시험 완료 후	대기 중이던 채널이 자동으로 시험을 시작합니다. (안정화를 위해 0.35초의 대기 시간이 적용됩니다.)

참고: 하드웨어 통신 안정화를 위해 이전 채널의 시험 종료 후 0.35초의 여유 시간이 자동으로 적용됩니다.

7.4 시간 초과 (타임아웃) 처리

누설 센서에서 30초 이내에 계측 결과 응답이 없으면 다음과 같이 처리됩니다.

화면의 오류 메시지 영역에 "통신 시간 초과" 오류 메시지를 표시합니다. (데이터베이스 저장 실패 시 "DB 저장 실패" 사유도 함께 노출)
해당 채널의 불합격(NG) 물리 신호를 내보냅니다.
측정값 9.9999, 판정 NG로 기록을 생성합니다.
로컬 CSV 로그 파일 및 데이터베이스에 검사 결과를 기록합니다. (단, 이전 단계인 제품 ID 판독에 성공한 상태여야 저장이 이루어집니다.)

7.5 제품 ID 및 PCB 바코드 연동 예외 처리

데이터 일관성과 무결성을 확보하기 위해 제품 식별 정보가 불완전한 상태에서의 데이터 저장을 차단하는 안전 검증 절차가 작동합니다.

1. 제품 ID(IC_SN) 판독 실패 시

동작: 제품 ID 판독 장치(4251 보드)로부터 16자리 ID 취득을 실패하는 경우 진행 메시지에 "ID 읽기 실패"를 표시하고, 해당 채널의 NG 물리 신호를 즉시 출력합니다.
저장 제한: 이 경우에는 로컬 CSV 로그 기록 및 데이터베이스 저장을 완전히 건너뜁니다.

2. PCB 바코드 DB 조회(매핑) 실패 시

동작: 판독 완료 후 데이터베이스 서버에서 IC_SN에 해당하는 PCB_Barcode를 조회할 때, 정해진 시간(5초) 내에 응답이 없거나 일치하는 데이터가 없는 경우 화면에 "바코드 매핑 실패" 관련 오류를 표시하고 NG 신호를 출력합니다.
저장 제한: 이 경우에도 제품 검사 자체를 진행하지 않고 즉시 스킵하며, 데이터베이스 및 로컬 CSV 로그 기록 저장을 건너뜁니다. (오프라인 모드에서는 임시 바코드 정보를 주입하여 검사 동작을 테스트할 수 있습니다.)

7.6 누설 센서 측정 결과 채널 분류

누설 센서에서 수신한 데이터는 다음 채널 번호 정보를 기준으로 정렬됩니다.

채널 번호	대상
`C01` 또는 `1`	좌측(LEFT) 채널
`C02` 또는 `2`	우측(RIGHT) 채널
채널 번호 식별 불가	현재 활성화되어 시험을 진행 중인 채널로 자동 배정

7.7 ID 수동 테스트

하단 메뉴의 ID Test (L) 또는 ID Test (R) 버튼을 사용하면 시험 시작 신호 없이 센서 ID 판독 동작만 단독으로 수행할 수 있습니다.

실행 흐름

중복 방지 잠금 획득 (다른 채널이 시험 중인 경우 대기)
결과 표시 초기화 및 0.5초 대기
"센서 정보 읽는 중" 메시지 표시 후 ID 판독 시작
성공 시: 판독된 ID 표시 및 "ID 테스트 완료" 메시지 표시
실패 시: ID 영역에 "-" 표시 및 "ID 테스트 실패" 메시지 표시
잠금 해제

용도: 장비 설치 후 통신 상태 확인 및 디버깅 시 사용합니다. 실제 누설 시험(압력 계측)은 수행하지 않습니다.

7.8 측정 판정 및 저장 기준

프로그램의 판정 스펙(상하한 규격) 기준과 누설 센서 자체의 내부 스펙 판정 기준이 일치하지 않는 경우, 저장소에는 다음과 같이 저장됩니다.

저장 기준 요약

최종 저장 판정 (Result): 센서 자체의 판정값과 무관하게, 항상 프로그램 화면 판정 기준으로 데이터베이스 및 로그에 저장됩니다.
동작 예시: 프로그램 판정이 합격(OK)이지만 센서 자체의 내부 판정이 불합격(NG 등)인 경우에도, 최종 기록 및 CSV에는 **OK (합격)**로 기록됩니다.

판정 스펙 불일치 시의 동작

양측의 판정 스펙이 다르면 불일치 로그가 기록되며 화면에 경고 팝업이 출력되지만, 최종 저장되는 판정 결과에는 영향을 미치지 않고 프로그램 판정값을 유지합니다.

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